洋書 Design and Test for Multiple Gbps VLSI Test Principles and Architectures: Design forの詳細情報
VLSI Test Principles and Architectures: Design for。WD80EDAZ-11CEWB0 WESTERN DIGITAL s/n: RD0K R/N: 3VAHA2 MAY。Gateway MFATXPNT 500SE Intel P4 1.80GHz, 767MB RAM, 80GB HDD。Gateway MFATXPNT 500SE Intel P4 1.80GHz, 767MB RAM, 80GB HDD。ペーパーバック洋書.天に少シミがあります.書き込みはなく,使用感少ないです.高速 伝送 テスト 試験 設計 ジッタ ジッター アイパターン 特性 評価 シグナル インテグリティ 物理層 high speedDesign and Test for Multiple Gbps Communication Devices and Systems